ACM – Zentriermessgerät für Asphären

Hochpräzise Messung von ein- und doppelseitigen Asphären

Das ACM (Asphären-Zentriermessgerät) ist ein leistungsfähiges System zur präzisen Bestimmung von Zentrierfehlern und Oberflächendaten an asphärischen optischen Komponenten. Es kombiniert hochauflösende Messtechnik mit einer zusätzlichen rotatorischen Achse und ist ideal für Entwicklungs- und Fertigungsumgebungen mit höchsten Ansprüchen.

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Absolute Weltneuheit mit V-SPOT Technologie

Mehrdimensional messen – sekundäre Fehler erkennen

Mit der V-SPOT-Technologie und redundanter Erfassung meridionaler und sagittaler Daten werden auch kleinste Asphärenfehler sichtbar. Sekundäre Defekte wie "Knick in der Optik" lassen sich zuverlässig diagnostizieren.

Multi SPOT für parallele Flächenmessung

Asphären schneller und vollständiger analysieren

Die gleichzeitige Erfassung mehrerer Meridiane reduziert Messzeiten erheblich und liefert präzise Informationen über die optische und mechanische Achse der Asphäre – ohne die Linse umzuspannen.

Hohe Genauigkeit in Fertigungsumgebungen

Extrem präzise – selbst bei kleinen Radien und Linsen

Das ACM eignet sich besonders für hochgenaue Messungen an kleinen Linsen mit engen Toleranzen. Das optionale Luftlagersystem ermöglicht eine Sub-Mikrometer-Zentrier- und Sub-Winkelsekunden-Wobblegenauigkeit.

Intuitive Bedienung mit ELWISOFT Touch-Software

4 Messprozesse für maximale Flexibilität

Die modulare ELWISOFT-Software enthält spezielle Applikationen für asphärische Geometrien – inklusive Fourier-basierter MSFE-Analyse.

Software-Module

  • 2SS – Two Step Single: einseitige Asphären
  • 2SD – Two Step Double: doppelseitige Asphären
  • HRSS – High Resolution Surface Scan: MSFE-Analyse

Technische Daten ACM

Technische Details(Von – Bis)
Prüflingsdurchmesser 10 mm bis 290 mm
Prüflingsgewicht 10 g bis 50 kg
Auflösung / Reproduzierbarkeit bis 0,1″
Laufgenauigkeit (Zentrierung) < 0,15 µm
Winkellauftoleranz < 0,3″
Software ELWISOFT HRSS-Modul
Schnittstelle USB 3.0
Lieferumfang ELWIMAT-VFS Sensor, Sensor-Kabel, Steuer-PC oder Touch-Modul, Software mit Mapping-Optionen

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Warum ACM?

  • Höchste Genauigkeit: Ideal für doppelseitige Asphären und Kleinoptiken
  • Fortschrittlich: Fourier-Analyse zur Prozessoptimierung
  • Vielseitig: Für Einzelstücke, Serienfertigung und Forschung
  • Modular: Erweiterbar mit Luftlager, Mapping, Inline-Messtechnik

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