
ACM – Zentriermessgerät für Asphären
Hochpräzise Messung von ein- und doppelseitigen AsphärenDas ACM (Asphären-Zentriermessgerät) ist ein leistungsfähiges System zur präzisen Bestimmung von Zentrierfehlern und Oberflächendaten an asphärischen optischen Komponenten. Es kombiniert hochauflösende Messtechnik mit einer zusätzlichen rotatorischen Achse und ist ideal für Entwicklungs- und Fertigungsumgebungen mit höchsten Ansprüchen.
Absolute Weltneuheit mit V-SPOT Technologie
Mehrdimensional messen – sekundäre Fehler erkennenMit der V-SPOT-Technologie und redundanter Erfassung meridionaler und sagittaler Daten werden auch kleinste Asphärenfehler sichtbar. Sekundäre Defekte wie "Knick in der Optik" lassen sich zuverlässig diagnostizieren.
Multi SPOT für parallele Flächenmessung
Asphären schneller und vollständiger analysierenDie gleichzeitige Erfassung mehrerer Meridiane reduziert Messzeiten erheblich und liefert präzise Informationen über die optische und mechanische Achse der Asphäre – ohne die Linse umzuspannen.

Hohe Genauigkeit in Fertigungsumgebungen
Extrem präzise – selbst bei kleinen Radien und LinsenDas ACM eignet sich besonders für hochgenaue Messungen an kleinen Linsen mit engen Toleranzen. Das optionale Luftlagersystem ermöglicht eine Sub-Mikrometer-Zentrier- und Sub-Winkelsekunden-Wobblegenauigkeit.

Intuitive Bedienung mit ELWISOFT Touch-Software
4 Messprozesse für maximale FlexibilitätDie modulare ELWISOFT-Software enthält spezielle Applikationen für asphärische Geometrien – inklusive Fourier-basierter MSFE-Analyse.
Software-Module
- 2SS – Two Step Single: einseitige Asphären
- 2SD – Two Step Double: doppelseitige Asphären
- HRSS – High Resolution Surface Scan: MSFE-Analyse
Technische Daten ACM
Technische Details | (Von – Bis) |
---|---|
Prüflingsdurchmesser | 10 mm bis 290 mm |
Prüflingsgewicht | 10 g bis 50 kg |
Auflösung / Reproduzierbarkeit | bis 0,1″ |
Laufgenauigkeit (Zentrierung) | < 0,15 µm |
Winkellauftoleranz | < 0,3″ |
Software | ELWISOFT HRSS-Modul |
Schnittstelle | USB 3.0 |
Lieferumfang | ELWIMAT-VFS Sensor, Sensor-Kabel, Steuer-PC oder Touch-Modul, Software mit Mapping-Optionen |
Warum ACM?
- Höchste Genauigkeit: Ideal für doppelseitige Asphären und Kleinoptiken
- Fortschrittlich: Fourier-Analyse zur Prozessoptimierung
- Vielseitig: Für Einzelstücke, Serienfertigung und Forschung
- Modular: Erweiterbar mit Luftlager, Mapping, Inline-Messtechnik
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