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Was für eine Woche!
Vergangene Woche durften wir auf der World of Photonics in München nicht nur viele spannende Gespräche führen und unsere neuesten Lösungen präsentieren – wir haben auch ein ganz besonderes Ereignis gefeiert:
30 Jahre Hofbauer Optik!
Ein riesiges Dankeschön an alle, die diesen Moment mit uns geteilt und den Abend zu etwas ganz Besonderem gemacht haben. Euer zahlreiches Erscheinen, die guten Gespräche und die tolle Stimmung bedeuten uns sehr viel.
Wir blicken voller Stolz auf drei Jahrzehnte Innovation, Qualität und Partnerschaft – und freuen uns auf alles, was noch kommt!
Halle B1, Stand 334 – danke an alle Besucher:innen und Geschäftspartner:innen, die bei uns vorbeigeschaut haben!

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Videos

Centration Measurement on Aspheres with Two Step Single 2SS process on ACM

The Asphere Centration Measurement Instrument ACM uses the new Vignetting Field Stop VFS System to evaluate Centration error and slope Error and also Mid Spatial Frequency Errors MSFE on Aspheres. With large V´Field of View FoV, large working distance WD and large depth of Focus DoF is this the very best instrument of the world. We show the Two Step Single 2SS version in this clip which is used especially for single sided Asphers.

Straightness Measurement

Straightness measurement based on angle measurement reveals to the highest accuracy with an uncertainty of smaller 0,2 µm per meter length. But the restriction is, that you have to measure the whole rail with the mirror base. Thies leads to a higher effort and more time especially at long rails and workpieces. Our measurement System ELWIGER with Software evaluation ELWISoft GER works with a special algorithmus so you can always prepare your workpiece an are than able to measure only on this regions to complete and evaluate the straightness measurement.

Zentriermessung an Achromat

Einfache Zentriermessung an mehrflächigen und/ oder mehrlinsigen optischen Systemen mit Hilfe der Software ELWICenter. Diese berücksichtigt die Brechung des Messstrahles an vorausgegangenen Flächen und rechnet die Wirkung über ein integriertes Optik-Design-Programm auf die Folgeflächen um, so daß die realen Kipwinkel jeder gemessenen Einzelfläche ermittelt werden können. Es kann also ein optisches System komplett im montierten Verbund gemessen werden. Vorteihafterweise sind dabei die Radien, die Linsendicken und die Luftabstände sowie die Brechungsindizes bekannt. Das Video zeigt die Messung an einem einfachen Achromaten mit allen 3 Flächen. Mehrere weitere Flächen können gemessen werden. Das Design kann manuell eingegeben werden oder aus einer Datenbank importiert werden. Rufen Sie uns an, wenn Sie Bedarf an dieser Soft- und passender Hardware haben oder wenn sie als Dienstleistung eine Linse gemessen haben wollen - auch in reverse Engineering Manier.

Doppel-Zentriergerät für Stablinsen

Optische Qualitätssicherung mittels Zentriermessung an Stablinsen in der Endoskopfertigung. Die Prüflinge werden mit dem Doppelsystem gleichzeitig von beiden Seiten gemessen und bewertet. So können die Toleranzen nach DIN ISO 10110-6 sehr schnell und präzise ermittelt werden. Die Software GUI ist äusserst intuitiv und per Touch schön zu bedienen.

In-Situ Traverse NLP500 mit ELWIMAT

Nach insgesamt drei Jahren Forschung und Entwicklung konnte der Prototyp der In-Situ- Deflectometric acquisition of Optical Surfaces Messtechnik DaOS nun an einem ebenen Prüfling abschließend getestet und bewertet werden. Nach den jeweiligen Polierschritten wurden In-Situ-Messungen in der Maschine mit Hilfe der neu entwickelten Traverse mit Vignettierendem Feldblenden-Sensor ELWIMAT der Fa. Hofbauer durchgeführt. Zur Referenzierung der Messungen wurden alle Messungen auch auf einem SSI-A Interferometer im Messtraum des TC-Teisnach durchgeführt. Ergebnis: Genauigkeit kleiner 60 nm PV und weniger als 20 nm rms. Insbesondere langwellige Abweichungen werden sehr zuverlässig bewertet und beim nächsten Polierschritt korrigiert.

Measurement on Aspheres

Measurement on Aspheres by VFS-Technology- Aspheric Centration Measurement Machine ACMM-Demonstrator

Kitten auf Dorn - Lens mounting on HD-Mandrel

Das Video zeigt das Kitten (Blocken) eines Halbzeuges bei der Asphärenfertigung auf einen HD-Dorn mit einer Genauigkeit im Bereich von kleiner 10 winkelsekunden.

Multi-Surface Centration Measurement on optical systems

Offene Zentriersoftware zur Zentriermessung für komplette optischeSysteme nach DINISO10110. Die Optik- DesignSoftware zur Berechnung der Zentrierfehler aller der ersten Fläche nachfolgenden Oberflächen ist inclusive. Die Designdaten für Radius, Brechzahl, Dicke, Linsenabstand werden vor der Messung durch 'Handeingabe oder mit z.B. Barcode-Scanner erfasst. Die Ergebnisse werden tabellarisch und grafisch dargestellt sowie als Protokoll in PDF und medienbruchsicher als csv gespeichert. Sehr gut geeignet zur Nachrüstung vorhandener Zentriermessgeräte. www.hofbauer-optik.de Gemafreie Musik von Frametraxx.

Geradheit ELWI-GER 3000 HD

Geradheitsmessung an einem Granitbalken mit µm-Genauigkeit

30 Jahre Hofbauer Optik Mess- & Prüftechnik 1995 – 2025

  • 📅 Mittwoch, 25. Juni 2025
  • 🕠 17:30 – 21:00 Uhr
  • 📍 LASER World of PHOTONICS – Messe München, Halle B1 | Stand 334

„30 Jahre Innovation mit Durchblick“

HOFBAUER OPTIK Mess- & Prüftechnik

„Optische Präzision ist keine Frage des Zufalls – sondern der Erfahrung.“ — Dr. Engelbert Hofbauer

Rückmeldung zur Teilnahme

Feier am 25.06.2025 ab 17:30 Uhr

Bei der Veranstaltung werden Fotos gemacht. Diese nutzen wir ggf. für unsere Berichterstattung und Social-Media-Kanäle. Wenn Sie nicht fotografiert werden möchten, sprechen Sie uns einfach vor Ort an.

Wir verwenden Ihre Daten ausschließlich gemäß unserer Datenschutzhinweise/-erklärung.

ACM – Zentriermessgerät für Asphären

Hochpräzise Messung von ein- und doppelseitigen Asphären

Das ACM (Asphären-Zentriermessgerät) ist ein leistungsfähiges System zur präzisen Bestimmung von Zentrierfehlern und Oberflächendaten an asphärischen optischen Komponenten. Es kombiniert hochauflösende Messtechnik mit einer zusätzlichen rotatorischen Achse und ist ideal für Entwicklungs- und Fertigungsumgebungen mit höchsten Ansprüchen.

Kontaktieren Sie uns

Absolute Weltneuheit mit V-SPOT Technologie

Mehrdimensional messen – sekundäre Fehler erkennen

Mit der V-SPOT-Technologie und redundanter Erfassung meridionaler und sagittaler Daten werden auch kleinste Asphärenfehler sichtbar. Sekundäre Defekte wie "Knick in der Optik" lassen sich zuverlässig diagnostizieren.

Multi SPOT für parallele Flächenmessung

Asphären schneller und vollständiger analysieren

Die gleichzeitige Erfassung mehrerer Meridiane reduziert Messzeiten erheblich und liefert präzise Informationen über die optische und mechanische Achse der Asphäre – ohne die Linse umzuspannen.

Hohe Genauigkeit in Fertigungsumgebungen

Extrem präzise – selbst bei kleinen Radien und Linsen

Das ACM eignet sich besonders für hochgenaue Messungen an kleinen Linsen mit engen Toleranzen. Das optionale Luftlagersystem ermöglicht eine Sub-Mikrometer-Zentrier- und Sub-Winkelsekunden-Wobblegenauigkeit.

Intuitive Bedienung mit ELWISOFT Touch-Software

4 Messprozesse für maximale Flexibilität

Die modulare ELWISOFT-Software enthält spezielle Applikationen für asphärische Geometrien – inklusive Fourier-basierter MSFE-Analyse.

Software-Module

  • 2SS – Two Step Single: einseitige Asphären
  • 2SD – Two Step Double: doppelseitige Asphären
  • HRSS – High Resolution Surface Scan: MSFE-Analyse

Technische Daten ACM

Technische Details(Von – Bis)
Prüflingsdurchmesser 10 mm bis 290 mm
Prüflingsgewicht 10 g bis 50 kg
Auflösung / Reproduzierbarkeit bis 0,1″
Laufgenauigkeit (Zentrierung) < 0,15 µm
Winkellauftoleranz < 0,3″
Software ELWISOFT HRSS-Modul
Schnittstelle USB 3.0
Lieferumfang ELWIMAT-VFS Sensor, Sensor-Kabel, Steuer-PC oder Touch-Modul, Software mit Mapping-Optionen

Produktbroschüre downloaden

Warum ACM?

  • Höchste Genauigkeit: Ideal für doppelseitige Asphären und Kleinoptiken
  • Fortschrittlich: Fourier-Analyse zur Prozessoptimierung
  • Vielseitig: Für Einzelstücke, Serienfertigung und Forschung
  • Modular: Erweiterbar mit Luftlager, Mapping, Inline-Messtechnik

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Für eine persönliche Beratung oder weitere Informationen zum ACM stehen wir Ihnen jederzeit zur Verfügung. Kontaktieren Sie uns einfach über unser Kontaktformular oder rufen Sie uns an.

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